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產(chǎn)品中心

Product Center

透過率測試儀

產(chǎn)品簡介

透過率測試
VS-Micro透過率測試儀簡介:
基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣品微小區(qū)域的相/透射率。對比傳統(tǒng)目鏡對焦,其采用數(shù)字相機(jī)視頻對焦更準(zhǔn)確,測試速度更快??烧{(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了以前沒有的小尺寸,更好的適應(yīng)了市場上越來越精細(xì)的樣品測試。專門用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過率檢測。

產(chǎn)品型號:OVS-Micro
更新時(shí)間:2024-10-29
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:2138
詳細(xì)介紹在線留言
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,航天,汽車,綜合

透過率測試儀優(yōu)點(diǎn):

儀器精密小巧,攜帶方便。

測試速度極快,一秒出結(jié)果,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。

極小樣品的透過率檢測。

優(yōu)異的波長重復(fù)性達(dá)0.1納米。

高精度的光度測定。

小化雜散光。

透過率測試儀軟件特點(diǎn):

智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測量結(jié)果,記錄譜圖測試積分時(shí)間,能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,很大程度地方便了譜圖的管理和分析。

自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確。

譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究。

CIE顏色測量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù), x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測量報(bào)告出具單位名稱。

技術(shù)參數(shù):

型號

OVS-Micro(I型)

OVS-Micro(II型)

測量系統(tǒng)

單光束

單光束

探測器

Sony線形CCD 陣列

Hamamatsu背照式2D-CCD

檢出限

0.1%

0.01%

相對檢測誤cha

﹤0.6%(410-900nm)

﹤0.4%(410-100nm)

檢測范圍

380-1000nm

360-1100nm

波長重復(fù)率

1nm

1nm

信噪比(全信號)

250:1

450:1

樣品測試平臺

X,Y軸可調(diào)

光源

鹵素鎢燈

孔徑大小

0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選

樣品大小

≥ 0.5mm

測量時(shí)間

﹤1s

對焦方式

數(shù)字相機(jī)視頻對焦

物鏡

5X

電源供應(yīng)器

5V/6W,可調(diào)節(jié)亮度,燈泡壽命5000小時(shí)

操作系統(tǒng)/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

體積/重量

30cm*29cm*35cm/8.5kg


 

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